粗糙度仪XR1
产品简介:
超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
带通滤波器 Ls 符合最新标准;Ls 也可关闭或根据需要更换
全面的测量记录
快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
自动根据标准选择截止和扫描长度
通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法(静态和动态)
可调整维护和校准间隔
多种测量站配置可用于自定义应用
多种选项,提高系统灵活性
技术参数:
测量原则:探针法
测量范围 mm:+/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)适用于 BFW 系统;350 µm 适用于 PHT 测头系统
采样长度数量符合 ISO/JIS:1 至 50(默认:5)
针尖:2 µm
测量力 (N):0.75 mN