粗糙度仪XR1

粗糙度仪XR1

产品简介：

超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

带通滤波器 Ls 符合最新标准；Ls 也可关闭或根据需要更换

全面的测量记录

快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法

自动根据标准选择截止和扫描长度

通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态和动态）

可调整维护和校准间隔

多种测量站配置可用于自定义应用

多种选项，提高系统灵活性

技术参数：

测量原则：探针法

测量范围 mm：+/- 250 µm（高达 +/- 750 µm，3x 测杆长度）适用于 BFW 系统；350 µm 适用于 PHT 测头系统

采样长度数量符合 ISO/JIS：1 至 50（默认：5）

针尖：2 µm

测量力 (N)：0.75 mN